La costante dielettrica (Dk) e il fattore di perdita (Df) dei circuiti stampati ad alta frequenza sono i parametri fondamentali che determinano la qualità della trasmissione del segnale ad alta frequenza. I parametri nominali di molti produttori presentano problemi quali condizioni di test opache e false etichette, che possono facilmente portare a insidie nella progettazione e nella produzione effettive. Di seguito, riassumeremo i principali punti di conoscenza pratica di questi due parametri per aiutarti a evitare le trappole dei parametri.

Definizione di base e terminologia comune del settore
Costante dielettrica (Dk/ε r): caratterizza la capacità del substrato del circuito stampato di immagazzinare cariche in un campo elettrico. In ingegneria si riferisce alla costante dielettrica relativa (valore del vuoto pari a 1), che è una proprietà intrinseca adimensionale.
Fattore di perdita (Df/tan δ): si riferisce alla proporzione di energia elettrica convertita in energia termica per unità di tempo da un substrato sottoposto a campi elettrici alternati ad alta frequenza, noto anche come tangente di perdita dielettrica.
La trappola dei parametri più facilmente trascurata
Disadattamento della frequenza di test: il Dk del normale fr4 viene solitamente misurato a una bassa frequenza di 1 MHz, mentre i circuiti stampati ad alta frequenza richiedono almeno 10 GHz (banda X-) di dati misurati e i parametri a bassa frequenza non possono affatto rappresentare le prestazioni della scena ad alta frequenza.
Marcatura virtuale della tolleranza nominale: la differenza batch Dk del normale fr4 può raggiungere ± 0,2, mentre la tolleranza Dk dei materiali qualificati ad alta frequenza deve essere controllata entro ± 0,02. La tolleranza della marcatura virtuale causerà direttamente una deviazione effettiva dell'impedenza di 5-10 Ω, superando il requisito di tolleranza di ± 2% per i circuiti RF.
Occultamento della stabilità ambientale: molti materiali ad alta frequenza a basso-prezzo non indicano il coefficiente di temperatura della costante dielettrica τ Dk. Negli scenari esterni che vanno da -40 gradi a +85 gradi, Dk cambia in modo significativo con la deriva della temperatura, causando direttamente la deriva dell'impedenza e la mancata corrispondenza del segnale.
L'influenza dell'umidità non è spiegata: quando il tasso di assorbimento d'acqua del substrato è troppo elevato, Dk aumenterà significativamente dopo l'assorbimento d'acqua, Df si deteriorerà in modo sincrono e la perdita di segnale in ambienti umidi supererà di gran lunga il valore nominale.
L'impatto fondamentale di due parametri sulle prestazioni del circuito
Costante dielettrica (Dk):
Determinando direttamente la velocità di trasmissione del segnale, minore è il Dk, minore è il ritardo di propagazione del segnale e maggiore è la velocità di trasmissione.
È il parametro di ingresso principale per la simulazione dell'impedenza e la deviazione Dk può portare direttamente al fallimento dei progetti di impedenza standard come 50 Ω/100 Ω, causando la riflessione del segnale.
Fattore di perdita (Df):
Determinando direttamente la perdita di inserzione dei segnali ad alta frequenza, nella banda di frequenza superiore a 10 GHz, la perdita per pollice del normale fr4 può raggiungere 1-2 dB e i materiali ad alta frequenza di alta qualità possono essere controllati entro 0,2 dB.
Un Df eccessivo può comportare uno spreco di potenza all'estremità trasmittente e l'incapacità di demodulare i segnali deboli all'estremità ricevente, riducendo direttamente la distanza di comunicazione e la sensibilità di rilevamento radar.
Riferimento di parametro tipico per lamiere ad alta frequenza tradizionali
| sistema materiale | Valore Dk tipico (10GHz) | Valore Df tipico (10GHz) | Principali scenari applicabili |
|---|---|---|---|
| FR-4 ordinario | 4.2~4.6 | ~0.02 | Circuiti digitali a bassa velocità inferiori a 1GHz |
| Serie di resine idrogeno-carbonio | 3.2~3.7 | 0.003~0.008 | Stazione base 5G, modulo ottico ad alta-velocità |
| Serie RO4000 | 3.48~3.66 | 0.002~0.0037 | Amplificatore RF, radar automobilistico |
| Serie modificata in PTFE | 2.2~2.6 | 0.001~0.003 | Onde millimetriche, comunicazione satellitare, radar militare |
Metodi di test autorevoli comunemente utilizzati nel settore
Il Dk e il Df del circuito stampato ad alta frequenza non possono essere testati utilizzando il metodo Q-tabella del normale fr4. Il metodo di risonanza della strip line comunemente utilizzato nel settore consiste nel misurare la frequenza di risonanza del risonatore della strip line utilizzando un analizzatore di rete vettoriale per invertire Dk e misurare il valore del fattore di qualità Q per invertire Df. I risultati sono più vicini allo stato di funzionamento effettivo del PCB.

